德国光学大厂蔡司 (ZEISS) 于 17 日宣布,推出次微米解析度 3D 非破坏性的成像解决方案 " 蔡司 Xradia 620 Versa RepScan ",透过该项解决方案的检验与量测功能,能够进一步先进 IC 封装的上市时程。
德国光学大厂蔡司 (ZEISS) 于 17 日宣布,推出次微米解析度 3D 非破坏性的成像解决方案 " 蔡司 Xradia 620 Versa RepScan ",透过该项解决方案的检验与量测功能,能够进一步先进 IC 封装的上市时程。